オックスフォード・インストゥルメンツ 分析機器事業部は、
日本電子 - オックスフォード・インストゥルメンツ
FE-SEM / FIB-SEM / EDS / EBSD「ジョイントWEBセミナー」 2020に参加します。

1日目に高分解能FE-SEM / 高感度ウィンドウレスEDS / CMOS型EBSDを用いた最新の観察・分析事例を、2日目にFIB-SEM / 大面積EDS / CMOS型EBSDを用いた最新の3D解析事例をご紹介します。
WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
皆さまのご参加をお待ちしております。

• ジョイントWEBセミナーホームページ：
  https://www.jeol.co.jp/online-expo/2020/expo06_jeol_oxford_joint.html