会場開催（オフライン）

2024年9月20日（金）、日本電子株式会社とオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社は、「SEM用分析装置の新提案」をテーマとしたジョイントセミナーを大阪で開催します。

ここ数年に渡り、SEM用分析装置の新しいソリューションが続々とリリースされました。

今回のセミナーではこのソリューションについて、装置と応用例をご紹介いたします。

さらにセミナー終了後は、ラボツアーとして、日本電子株式会社の新大阪ショールームをご案内させていただきます。

最新機種を直接ご覧いただくチャンスです！参加費は無料。

皆さまのお申込みをお待ちしております。

※ご好評につき満席のため、お申込みの受付を終了しました。

開催概要

開催日時：2024年9月20日（金） 

• セミナー　13：00～16：00（開場12：30）
• ラボツアー　16：00～17：00

（定員25名）ご好評につき満席のため、お申込みの受付を終了しました。

テーマ：「SEM用分析装置の新提案」

会場：日本電子株式会社　西日本ソリューションセンター

〒532-0011 大阪府大阪市淀川区西中島5-14-5 ニッセイ新大阪南口ビル1階

アクセス（Google Map）

• JR新大阪駅　中央口　徒歩5分
• 地下鉄御堂筋線 新大阪駅南口（7番出口）徒歩2分

参加費：無料

主催：日本電子（株）、オックスフォード・インストゥルメンツ（株）

セミナープログラム

9月20日（金）	プログラム内容
12:30 - 13:00	開場
13:00-13:05	開会のご挨拶
13:05 - 13:30	「品質管理の救世主！ 革新的なUnity検出器の応用例」 【オックスフォード・インストゥルメンツ（株） 分析機器事業部】
13:30 - 14:00	「EDSを使った非破壊膜厚測定（LayerProbeのご紹介と応用例）」 【オックスフォード・インストゥルメンツ（株） 分析機器事業部】
14:00 - 14:30	「研究開発を促進する起爆剤 ~SEM-RAMANという新しい分析解析手法~」 【オックスフォード・インストゥルメンツ（株） ビーテック事業部】
14:30 - 14:45	休憩
14:45 - 15:15	「低加速SEM観察と各種分析を組合せたリチウムイオン電池解析」 【日本電子株式会社】
15:15 - 15:45	「パワー半導体素子の元素分析による立体構築および、冷却化でのLamella作成」 【日本電子株式会社】
15:45 - 16:00	「新型SEMのご紹介」 【日本電子株式会社】
16:00 - 16:55	装置見学会 & 質疑応答 展示装置：卓上SEM、W-SEM、FE-SEM、XRF、EDS、EBSD、Unity
16:55 - 17:00	閉会のご挨拶

セミナーでご紹介するシステム

実機見学

セミナー後、日本電子株式会社 西日本ショールームの分析装置をご見学いただけます。

• lEDS、EBSD、Unity（期間限定）
• 卓上SEM
• 卓上XRF
• 卓上型NMR

「ジョイントセミナー」ご案内PDF