AFMの理解に向けた深層基礎講「第1回」 | 全12回

OI Academy | Webinar
原⼦間⼒顕微鏡法：確⽴までの軌跡

原子間力顕微鏡(AFM)は、1990代初期に実用化されて以降、学術研究分野に止まらず、産業分野においても幅広く利用されています。近年では試料表面の段差や粗さ測定の他、複合材料の弾性率評価や電子デバイスの電気物性など、幅広い機能を活かしてその用途が広がり、多くの研究者・技術者の方々に利用されています。

全12回の本講座は、AFMをご利用になられている・これから使われるご予定の研究者・技術者の方々にお役立ていただける内容を目指し、長年、AFMの装置開発とその応用をご研究されてきた京都大学名誉教授山田啓文先生を講師に迎えて、AFMを始めそこから派生してきた測定機能の原理の理解を深めるとともに最新機能や将来の可能性について学んでいただく内容となっています。

多くの皆様にAFMを深く理解いただけることを願っています。

第１回目のテーマは「原⼦間⼒顕微鏡法：確⽴までの軌跡」です。

原⼦間⼒顕微鏡法：確⽴までの軌跡

• 探針–試料間にはたらく力（相互作用力：ファンデルワールス力、化学力）
• 力の測定法：動作原理/測定構成要素(カンチレバー,変位測定系)